GEN3 SYSTEMS seria CM
Urządzenia serii CM firmy Gen3 Systems służą do pomiarów zanieczyszczeń jonowych. Pomiar zanieczyszczeń jonowych jest techniką analizy ekstrakcyjnej, umożliwiającą ilościowy pomiar zanieczyszczenia jonowego na płytkach elektronicznych zgodnie z normą IPC TM 650-2.3.25. Wynik pomiaru przedstawiany jest jako ilość µg/cm2 ekwiwalentu NaCl.
Seria urządzeń CM mierzy ilość zanieczyszczeń jonowych zgodnie ze wszystkimi istniejącymi standardami, w tym najpowszechniej stosowanym ROSE (IPC TM 650-2.3.25) oraz PICT. Linia składa się z 6 różnych modeli o różnych wielkościach komory testującej i przeznaczeniu. Właściwe urządzenie dobiera się głównie pod kątem wielkości testowanych elementów, przy założeniu, żeby dobrać możliwie jak najmniejszą komorę względem testowanych elementów, bo wtedy dokładność pomiaru jest największa.
Wszystkie urządzenia z serii CM wykorzystują czujnik testujący z litego złota, wzmacniacze balistyczne, wydajną pompę, aby zapewnić najwyższą dokładność pomiaru nawet przy bardzo niewielkich wartościach przewodnictwa. Oprogramowanie umożliwia graficzną prezentację wyników, analizę pass/fail i automatyczny wydruk wyników na drukarce.
We wspólnym projekcie z laboratorium Roberta Boscha weryfikując procedurę testowania w różnych zakładach produkcyjnych na całym świecie, udowodniono, że seria CM spełnia kryteria 6 Sigma. Używane jako narzędzie procesowe, systemy CM mogą być wykorzystywane do optymalizacji technik produkcyjnych i materiałów oraz kontroli produkcji w różnych zakładach produkcyjnych na całym świecie, z wysokim poziomem pewności.
Seria CM:
- proces testowania zweryfikowany przez 6 Sigma
- możliwość wykonania skróconego testu 3 minutowego
- wysoka wydajność pompy zapewniająca wysoką cyrkulację płynu testującego umożliwiając szybkie usuwanie zanieczyszczeń jonowych z płytek PCBA
- unikalny algorytm przewidywania wyniku pozwalający na skrócenie czasu pomiaru (Merit of Fit)
- unikalny wykonany w całości ze złota czujnik pomiarowy oraz balistyczny wzmacniacz umożliwiają osiągnięcie dokładności pomiaru <0.005µS/cm
- kompensacja wpływu CO2 na wynik pomiaru, umożliwia osiągnięcie wyniku wolnego od wpływu zanieczyszczenia powietrza
- automatyczna kompensacja temperatury
- pełna regeneracja płynu testującego typowo <6 minut
- nowe typy ramek i uchwytów do testowania płytek i komponentów z funkcją odprowadzania płynu
- pomiar zgodnie ze wszystkimi międzynarodowymi nowymi i starymi standardami w tym także MIL
- wszystkie systemy zapewniają wskaźnik powtarzalności `2%
- 6 urządzeń różniących się wielkością komory testowej
-
PDFGEN3-CM-Brochure-2024.pdf
PDF - 3.98 MB
| Model | Minimalny obszar testowy PCB (MBTA) cm²/mm² | Rozmiar zbiornika (mm) (dł. x gł. x wys.) | Mechanizm podnoszenia | Maksymalny rozmiar PCB z ramą obsługową (mm) (dł. x gł. x wys.) |
|---|---|---|---|---|
| CM11 | 25 / 2500 (3,875) | 250 x 300 x 36 mm (9,8" x 11,8" x 1,4") | Zintegrowany | n/d |
| CM22 | 50 / 5000 (7,75) | 250 x 370 x 60 mm (9,8" x 14,6" x 2,4") | Rama obsługowa | 215 x 330 x 33 mm (8,5" x 13" x 1,3") |
| CM33 | 100 / 10 000 (15,5) | 350 x 525 x 60 mm (13,8" x 20,7" x 2,4") | Rama obsługowa | 310 x 480 x 33 mm (12,2" x 18,9" x 1,3") |
| CM33L | 250 / 25 000 (38,75) | 610 x 640 x 90 mm (24" x 25,2" x 3,5") | Rama obsługowa | 570 x 590 x 63 mm (22,4" x 23,2" x 2,5") |
| CM VMC | 150 / 15 000* (23,25) | 360 x 530 x 65 mm (14,2" x 20,8" x 2,5") | n/d | n/d |
| CM BBT | 150 / 15 000* (23,25) | 715 x 665 x 30 mm (28,1" x 26,2" x 1,2") | Rama obsługowa | 625 x 645 x 7 mm (24,6" x 25,4" x 0,3") |
